Người tố giác là nhà khoa học dữ liệu George Hayward, cựu nhân viên của Meta, công ty mẹ của Facebook.
Chia sẻ với báo Thời báo New York, nhà khoa học dữ liệu này tuyên bố rằng Facebook đang âm thầm làm hao pin điện thoại di động của người dùng dưới danh nghĩa thử nghiệm các tính năng hoặc phản hồi sự cố ứng dụng. Phương pháp này được gọi là “kiểm tra tiêu cực”.
George Hayward, 33 tuổi, gia nhập Meta vào năm 2019 nhưng bị sa thải vào tháng 11 năm ngoái. Anh cho biết mình bị sa thải vì từ chối thực hiện các yêu cầu thử nghiệm vì nó có thể gây hại cho người dùng.
Sau khi bị sa thải, Hayward kiện Meta ra tòa án liên bang Manhattan. “Tôi đã nói với quản trị viên rằng điều này có thể gây hại cho người dùng và nhận được phản hồi rằng bằng cách làm hại một số người, họ sẽ giúp ích cho nhiều người”, Hayward viết trong đơn kiện.
“Nguyên tắc của bất kỳ nhà khoa học dữ liệu nào là không gây hại cho người dùng. Việc cố tình làm cạn kiệt pin của smartphone có thể khiến người dùng gặp nguy hiểm, đặc biệt là trong một số tình huống khẩn cấp”, Hayward nói.
Luật sư Dan Kaiser, người biện hộ cho George Hayward, phân tích việc pin smartphone cạn kiệt có thể khiến người dùng gặp nguy hiểm như thế nào, chẳng hạn như trong trường hợp khẩn cấp cần liên hệ với cảnh sát hoặc nhân viên cứu hộ. .
Không rõ có bao nhiêu người dùng đã bị ảnh hưởng bởi các “thử nghiệm tiêu cực” từ Facebook. Mặt khác, vụ kiện cũng đã được rút lại do các điều khoản trong hợp đồng lao động giữa Hayward và Meta.
Meta hiện chưa bình luận gì về cáo buộc của cựu nhân viên George Hayward, người từng làm việc tại bộ phận ứng dụng Messenger.
Link nguồn: https://cafef.vn/nhan-vien-cu-to-facebook-am-tham-hut-can-pin-dien-thoai-20230201133904962.chn
